Eğer görüntülenecek malzeme zor görüntü veren bir maddeyse, bir maddenin atomik yapısının yüksek çözünürlüklü görüntülerini elde etmek için elektron mikroskopları oldukça harika bir seçim olabilir. Böylece daha net bir görüntüye ulaşılmış olur.
Elektron mikroskoplarının kötü yönleri olabilir. Ne yazık ki, cihazların elektron demetleri daha yumuşak olan malzemeleri tahrip edebilir. Bu nedenle bilim insanları bunları görüntülemek için tipik olarak atomik çözünürlüğe ulaşamayan X ışınlarına güvenirler. Ancak Enerji Departmanı Lawrence Berkeley Ulusal Laboratuarı'ndaki bilim insanları, Nature Communications ve Nature Materials dergilerinde 4D-STEM adlı bir tekniğin, yumuşak malzemeleri tahrip etmeden elektron mikroskopisini kullanmaların nasıl sağladıklarını gösteren bir çift çalışma yayınladı.
Araştırmalarından elde edilen görüntüler muhteşem
Yeni yayınlanan bir basın açıklamasına göre, Nature Communications çalışması, öngörülemeyen moleküler bir yapıya sahip olan metalik camın görüntülenmesi için 4D-STEM'in kullanımına odaklandı. Böylece araştırmacılar, materyalin stres altında kırılmasına neden olabilecek atomik ölçekte zayıf noktaları tespit etmiş oldu.
Nature Materials çalışması için araştırmacılar, 4D-STEM tekniğini yarı iletkende moleküler sıralamayı işleme katkısı kullanılmadan önce ve sonra görüntülemek için kullandı. Araştırma, basın bültenine göre güneş enerjisi alanını etkileyebilecek. Andrew Minor basın bülteninde "Bu çalışmalarda, 4D-STEM'in yüksek hızlı dedektörlerimiz, özelleştirilebilir algoritmalar ve güçlü elektron mikroskopları ile birlikte kullanıldığında, tekniğin bilim insanlarının herhangi bir malzemedeki atomik veya moleküler bölgeleri -ışına duyarlı yumuşak malzemeleri bile- bulmasına yardımcı olabileceğini gösterdik. Bunları daha önce kullanılan tekniklerle görmek mümkün değildi" diye açıkladı.
